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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：17

题名/责任者:
形位公差与技术测量/杨恩烈,余锴坚编著
出版发行项:
沈阳:辽宁人民出版社,1981
ISBN及定价:
/￥1.95
载体形态项:
284页;25cm
个人责任者:
杨恩烈 编
个人责任者:
余锴坚 编
学科主题:
形位公差
学科主题:
技术测量
中图法分类号:
TG8
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