MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：8
- 题名/责任者:
- 分析晶体缺陷的电子显微术/(美)洛雷托,(美)斯莫尔曼著 康振川,王桂金译
- 出版发行项:
- 上海:上海科学技术出版社,1979
- ISBN及定价:
- /￥0.46
- 载体形态项:
- 111页;20cm
- 个人责任者:
- 洛雷托 著
- 个人责任者:
- 斯莫尔曼 著
- 个人次要责任者:
- 康振川 译
- 个人次要责任者:
- 王桂金 译
- 学科主题:
- 晶体缺陷-分析-电子显微术
- 学科主题:
- 电子显微术-晶体缺陷-分析
- 中图法分类号:
- TG115.21
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