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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:10

题名/责任者:
半导体器件可靠性物理/高光渤, 李学信编著
出版发行项:
北京:科学出版社,1987
ISBN及定价:
/¥4.65
载体形态项:
601页;20cm
个人责任者:
高光渤 编著
个人责任者:
李学信 编著
学科主题:
半导体器件-可靠性物理学
学科主题:
可靠性物理学-半导体器件
中图法分类号:
TN306
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN306/7 B00133888 1987  调节书库     阅览
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