MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：28
- 题名/责任者:
- 半导体的检测与分析/中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,1984
- ISBN及定价:
- /￥3.70
- 载体形态项:
- 636页;19cm
- 丛编项:
- 实验物理学丛书
- 团体责任者:
- 中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室 著
- 学科主题:
- 半导体材料-检测-分析
- 中图法分类号:
- TN307
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