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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:24

题名/责任者:
嵌入式软件测试/(美)Bart Broekman,Edwin Notenboom著 张君施[等]译
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2004.1
载体形态项:
311页:图;24cm
并列正题名:
Testing Embedded Software
个人责任者:
Broekman Bart 著
个人责任者:
Notenboom Edwin 著
个人次要责任者:
张君施
个人次要责任者:
张思宇
个人次要责任者:
周承平
学科主题:
软件-测试
中图法分类号:
TP311.5
书目附注:
有书目
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