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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:17

题名/责任者:
数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计/(美)Alfred L.Crouch著 何虎,马立伟等译
出版发行项:
北京:机械工业出版社,2006
ISBN及定价:
7-111-18706-7/CNY38.00
载体形态项:
284页;26cm+1光盘
并列正题名:
Design-for-test for digital IC's and embedded core systems
丛编项:
电子与电气工程丛书
个人责任者:
(美) Crouch Alfred L. 著
个人次要责任者:
何虎
个人次要责任者:
马立伟
学科主题:
数字集成电路-测试-设计
学科主题:
微计算机系统-测试-设计
中图法分类号:
TN431.2
版本附注:
由美国Pearson Education培生教育出版集团授权机械工业出版社独家出版
提要文摘附注:
全书论述集成电路与嵌入式数字系统的测试技术,提出许多重要且关键的解决方案。针对目前在测试中遇到的实际问题,从技术和产品的投资成本上论述嵌入内核和SoC的测试问题。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN431.2/70 B00403877 2006  自然科学图书借阅室     可借 还书处
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