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- 题名/责任者:
- 数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计/(美)Alfred L.Crouch著 何虎,马立伟等译
- 出版发行项:
- 北京:机械工业出版社,2006
- ISBN及定价:
- 7-111-18706-7/CNY38.00
- 载体形态项:
- 284页;26cm+1光盘
- 丛编项:
- 电子与电气工程丛书
- 个人责任者:
- (美) Crouch Alfred L. 著
- 个人次要责任者:
- 何虎 译
- 个人次要责任者:
- 马立伟 译
- 学科主题:
- 数字集成电路-测试-设计
- 学科主题:
- 微计算机系统-测试-设计
- 中图法分类号:
- TN431.2
- 版本附注:
- 由美国Pearson Education培生教育出版集团授权机械工业出版社独家出版
- 提要文摘附注:
- 全书论述集成电路与嵌入式数字系统的测试技术,提出许多重要且关键的解决方案。针对目前在测试中遇到的实际问题,从技术和产品的投资成本上论述嵌入内核和SoC的测试问题。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN431.2/70 | B00403877 | 2006 | 自然科学图书借阅室 | 可借 | 还书处 |
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