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题名/责任者:

电磁兼容的测试方法与技术/(美)Mark I. Montrose, (美)Edward M. Nakauchi编著 游佰强, 周建华等译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2007

ISBN及定价:

978-7-111-21644-5/CNY39.00

载体形态项:

11,291页:图;26cm

并列正题名:

Testing for EMC compliance approaches and techniques

丛编项:

电子与电气工程丛书

个人责任者:

(美) 蒙特罗斯 (Montrose, Mark I.) 编著

个人责任者:

(美) 纳考奇 (Nakauchi, Edward M.) 编著

个人次要责任者:

游佰强 译

个人次要责任者:

周建华 译

学科主题:

电磁兼容性-测试

中图法分类号:

TN03

版本附注:

本书由约翰-威利父子公司授权出版

提要文摘附注:

本书涵盖了EMC相关领域和电磁场理论等基础知识，系统分析了解决各类EMC/ENI具体问题的方法和防护措施，并提供相关试验的步骤、仪器的使用和制作等方面的详细指导。

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