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题名/责任者:

数字集成电路测试优化:测试压缩、测试功耗优化、测试调度/李晓维[等]著

出版发行项:

北京:科学出版社,2010

ISBN及定价:

978-7-03-027894-4 精装/CNY58.00

载体形态项:

11,344页;25cm

其它题名:

测试压缩、测试功耗优化、测试调度

个人责任者:

李晓维 著

学科主题:

数字集成电路-测试技术

中图法分类号:

TN431.2

一般附注:

中国科学院科学出版基金资助出版

题名责任附注:

著者还有：韩银和、胡瑜、李佳

提要文摘附注:

本书内容涉及数字集成电路测试优化的三个主要方面：测试压缩、测试功耗优化、测试调度。包括测试数据压缩的基本原理，激励压缩的有效方法，测试响应压缩方法和电路结构；测试功耗优化的基本原理，静态测试功耗优化方法，动态测试功耗优化；测试压缩与测试功耗协同优化方法；测试压缩与测试调度协同优化方法；并以国产64位高性能处理器(龙芯2E和2F)为例介绍了相关成果的应用。

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