MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：20
- 题名/责任者:
- 程序设计缺陷分析与实践/尹浩，于秀山编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2011
- ISBN及定价:
- 978-7-121-12969-8/CNY36.00
- 载体形态项:
- 268页;24cm
- 并列正题名:
- Bug detection
- 个人责任者:
- 尹浩 (1959~) 编著
- 个人责任者:
- 于秀山 (1962.12~) 编著
- 学科主题:
- 程序设计-缺陷-分析
- 学科主题:
- 程序设计
- 中图法分类号:
- TP311.1
- 相关题名附注:
- 封面英文题名：Bug detection
- 提要文摘附注:
- 本书结合作者多年软件测试经验，重点总结了C/C++和Java语言在程序设计方面存在的各种缺陷。全书共5章2个附录，分别介绍了程序设计缺陷静态分析方法、C/C++语言程序设计缺陷分析等内容。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TP311.1/74 | B00662731 | 2011 - |  调节书库
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| TP311.1/74 | B00662732 | 2011 - | 调节书库
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