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题名/责任者:

数字系统测试和可测试性设计/(美) 塞纳拉伯丁·纳瓦比著 贺海文译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2015

ISBN及定价:

978-7-111-50154-1/CNY85.00

载体形态项:

xv, 368页:图;24cm

统一题名:

Digital system test and testable design using HDL models and architectures

丛编项:

电子与嵌入式系统设计译丛

个人责任者:

纳瓦比 (Navabi, Zainalabedin) 著

个人次要责任者:

贺海文 译

学科主题:

数字系统-系统测试

中图法分类号:

TP271

书目附注:

有书目 (第362-368页)

提要文摘附注:

这本书论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。本书的最大特点是广泛地使用Verilog和VerilogPLI编写测试应用，这把本书与其他讨论测试和可测试性的书籍区分开来。

使用对象附注:

高校计算机、微电子、电子工程等相关专业高年级学生和研究生，相关科研技术人员。

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