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题名/责任者:

单板级JTAG测试技术/王承, 刘治国编著

出版发行项:

北京:国防工业出版社,2015

ISBN及定价:

978-7-118-09986-7/CNY58.00

载体形态项:

x, 205页:图;21cm

个人责任者:

王承, 1976- 编著

个人责任者:

刘治国, 1977- 编著

学科主题:

集成电路-测试技术

中图法分类号:

TN407

书目附注:

有书目 (第204-205页)

提要文摘附注:

本书是一本系统论述单板级JTAG测试技术的专著。内容包括: 基于IEEE1149.1标准的边界扫描测试、可测性设计和测试功能及串心测试矢量 ; 内建自测试和仿真测试 ; 基于IEEE1687标准的集成电路测试技术发展趋势。

使用对象附注:

本书适合于相关领域工程技术人员阅读，也可作为高等院校电子信息、通信、测试测控、自动化等专业高年级学生或研究生的教学参考书。

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