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题名/责任者:

产品设计的电磁兼容故障排除技术/(美)帕特里克·G. 安德烈(Patrick G. Andre)，(美)肯尼思·D. 怀亚特(Kenneth D. Wyatt)著 崔强译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2019

ISBN及定价:

978-7-111-62047-1/CNY49.00

载体形态项:

15,254页:图，照片;21cm

并列正题名:

EMI troubleshooting cookbook for product designers

丛编项:

国际电气工程先进技术译丛

个人责任者:

(美) 安德烈 (Andre, Patrick G.) 著

个人责任者:

(美) 怀亚特 (Wyatt, Kenneth D.) 著

个人次要责任者:

崔强 译

学科主题:

电子产品-产品设计-电磁兼容性-故障修复

中图法分类号:

TN03

版本附注:

由IET旗下，SeiTech出版公司授权出版

出版发行附注:

本书限中国大陆发行

相关题名附注:

封面英文题名：EMI troubleshooting cookbook for product designers

提要文摘附注:

本书讲述了产品的电磁干扰（EMI）故障排除技术。其目的是为工程师和技术人员提供EMI故障排除思路、故障排除方法或诊断工具。全书共11章，内容包括电磁基础、电磁干扰和电磁兼容、测量仪器、辐射发射、传导发射、辐射敏感度、传导敏感度、电快速瞬变脉冲群（EFT）、静电放电（ESD）、浪涌和雷电脉冲的瞬态抑制，以及其他特定的EMI问题。

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