MARC状态：审校 文献类型：规范文档 浏览次数：5
- 题名/责任者:
- 系统芯片SoC的设计与测试/潘中良著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2009
- ISBN及定价:
- 978-7-03-025672-0/CNY60.00
- 载体形态项:
- 323页;24cm
- 个人责任者:
- 潘中良 (1966-) 著
- 学科主题:
- 集成电路-芯片-设计
- 中图法分类号:
- TN402
- 提要文摘附注:
- 本书详细介绍了系统芯片SoC的设计与测试的关键技术和主要方法。内容包括：系统芯片的设计模式与流程、系统芯片的总线结构、芯核设计、软硬件协同设计、系统芯片的存储系统设计、系统芯片中模拟/混合信号的设计、系统芯片的低功耗设计、信号完整性等。
全部MARC细节信息>>
物联网分馆