MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：25
- 题名/责任者:
- 半导体器件参数快速综合测试仪/罗静成著
- 出版发行项:
- 北京:人民出版社,1980
- ISBN及定价:
- /￥1.05
- 载体形态项:
- 369页;19cm
- 个人责任者:
- 罗静成 著
- 学科主题:
- 半导体技术-参数测试-测试仪表
- 学科主题:
- 参数测试-半导体技术-测试仪表
- 学科主题:
- 测试仪表-参数测试-半导体技术
- 中图法分类号:
- TN307
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