MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：19
- 题名/责任者:
- 半导体器件的可靠性.第二集/中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
- 出版发行项:
- 重庆:科学技术文献出版社重庆分社,1976
- ISBN及定价:
- /￥0.49
- 载体形态项:
- 68页;26cm
- 团体责任者:
- 中国科学技术情报研究所重庆分所 编辑
- 学科主题:
- 半导体技术-可靠性试验
- 学科主题:
- 可靠性试验-半导体技术
- 中图法分类号:
- TN306
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