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题名/责任者:

SoC设计与测试/(美)Rochit Rajsuman著 于敦山等译

出版发行项:

北京:北京航空航天大学出版社,2003.8

ISBN及定价:

7-81077-308-9/CNY35.00

载体形态项:

210页;26CM

并列正题名:

System-on-a-Chip:Design and Test

个人责任者:

Rajsuman Rochit 著

个人次要责任者:

于敦山 译

个人次要责任者:

盛世敏 译

个人次要责任者:

田泽 译

学科主题:

超大规模集成电路-计算机辅助设计

中图法分类号:

TP368.1

提要文摘附注:

本书分为设计和测试两部分，分别介绍SoC的设计方法和测试方法。在设计部分，介绍SoC设计会遇到的问题和与传统的ASIC设计流程的差别，并介绍逻辑核、存储器核及模拟核的设计方法和需要注意的问题，以及SoC系统的验证方法。在测试部分，介绍SoC中逻辑核、存储器核以及模拟核的测试结构与测试方法，还介绍Iddq测试在SoC测试中的应用，最后介绍产品测试中的需要注意的问题。

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