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题名/责任者:

数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计/(美)Alfred L.Crouch著 何虎，马立伟等译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2006

ISBN及定价:

7-111-18706-7/CNY38.00

载体形态项:

284页;26cm+1光盘

并列正题名:

Design-for-test for digital IC's and embedded core systems

丛编项:

电子与电气工程丛书

个人责任者:

(美) Crouch Alfred L. 著

个人次要责任者:

何虎 译

个人次要责任者:

马立伟 译

学科主题:

数字集成电路-测试-设计

学科主题:

微计算机系统-测试-设计

中图法分类号:

TN431.2

版本附注:

由美国Pearson Education培生教育出版集团授权机械工业出版社独家出版

提要文摘附注:

全书论述集成电路与嵌入式数字系统的测试技术，提出许多重要且关键的解决方案。针对目前在测试中遇到的实际问题，从技术和产品的投资成本上论述嵌入内核和SoC的测试问题。

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