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MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：44

题名/责任者:
半导体测试技术原理与应用/刘新福, 杜占平, 李为民编著
出版发行项:
北京:冶金工业出版社,2007
ISBN及定价:
978-7-5024-4101-2/CNY28.00
载体形态项:
12,304页:图;21cm
个人责任者:
刘新福 编著
个人责任者:
杜占平 编著
个人责任者:
李为民 编著
学科主题:
半导体材料-参数测试
中图法分类号:
TN304.07
一般附注:
天津市科协自然科学学术专著基金资助出版
提要文摘附注:
本书以半导体测试技术及测试技术的改进为基础，介绍微区薄层电阻多种测试方案的实施与应用，共十一章。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN304.07/2 B00431026 2007 - 自然科学图书借阅室     可借 还书处
TN304.07/2 B00431027 2007 - 自然科学图书借阅室     借出-应还日期：2015-08-12
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