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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:15

题名/责任者:
数字集成电路设计验证:量化评估、激励生成、形式化验证/李晓维[等]著
出版发行项:
北京:科学出版社,2010
ISBN及定价:
978-7-03-027609-4/CNY58.00
载体形态项:
12,411页;24cm
其它题名:
量化评估、激励生成、形式化验证
个人责任者:
李晓维
学科主题:
数字集成电路-电路设计-验证
中图法分类号:
TN431.2
题名责任附注:
著者还有:吕涛、李华伟、李光辉
提要文摘附注:
本书重点介绍过去五年内取得的相关研究成果,兼顾对国内外近期相关工作的扼要介绍。本书涉及数字集成电路模拟验证的覆盖量化评估和测试激励生成、形式化方法。主体内容包括量化评估、测试激励生成、形式验证三大部分。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN431.2/76 B00610289 2010 - 调节书库     阅览 调节书库
TN431.2/76 B00610290 2010 - 自然科学图书借阅室     借出-应还日期:2023-07-24
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