MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：31
- 题名/责任者:
- 光学测试技术/刘承，张登伟，张彩妮等编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2013
- ISBN及定价:
- 978-7-121-20194-3/CNY49.90
- 载体形态项:
- 311页;26cm
- 个人责任者:
- 刘承 (光学) 编著
- 个人责任者:
- 张登伟 (1978-) 编著
- 个人责任者:
- 张彩妮 (女， 1973-) 编著
- 学科主题:
- 光学仪器-测试技术-教材
- 学科主题:
- 光学仪器
- 学科主题:
- 测试技术
- 中图法分类号:
- TH74
- 一般附注:
- 光电信息科学与工程类专业规划教材
- 提要文摘附注:
- 本书从基本原理出发，着重阐述各种物理量的光学测试技术、方法和手段。包括6章内容，分别为光干涉技术、光衍射技术、光调制解调及扫描技术、光纤传感技术和光纳米传感与测量技术等。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TH74/3 | B00770270 | 2013 - |  自然科学图书借阅室
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可借 | 自然科学图书借阅室 |
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