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题名/责任者:

空间电子仪器单粒子效应防护技术/王跃科[等]著

出版发行项:

北京:国防工业出版社,2010

ISBN及定价:

978-7-118-07208-2 精装/CNY65.00

载体形态项:

25,354页:图;21cm

并列正题名:

Single event effect mitigation techniques for space electronic instrument

个人责任者:

王跃科 著

学科主题:

人造卫星-超大规模集成电路-电子仪器-粒子-防护

中图法分类号:

V443

中图法分类号:

V44

题名责任附注:

著者还有：邢克飞、杨俊、张传胜

提要文摘附注:

本书共分10章，内容包括：空间环境、VLSI的单粒子效应、单粒子效应实验与验证方法、FPGA单粒子效应故障检测与加固设计等。

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