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题名/责任者:

材料的透射电子显微学与衍射学/(美)布伦特·福尔兹, (美)詹姆斯·豪著 吴自勤[等]译

出版发行项:

合肥:中国科学技术大学出版社,2017

ISBN及定价:

978-7-312-03749-8/CNY99.00

载体形态项:

657页;24cm

并列正题名:

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials

丛编项:

物理学名家名作译丛

个人责任者:

(美) 福尔兹 (Fultz, Brent) 著

个人责任者:

(美) 豪 (Howe, James) 著

个人次要责任者:

吴自勤 译

学科主题:

工程材料-透射电子显微术

学科主题:

工程材料-X射线衍射

中图法分类号:

TB302

题名责任附注:

译者还有:石磊、何维、张庶元

出版发行附注:

本书限中国大陆发行

责任者附注:

布伦特·福尔兹,美国加州理工学院应用物理和材料科学系教授。1982年获加州大学伯克利分校博士学位。美国总统杰出青年科学家奖和美国TMS学会电子、磁学及光子材料分会杰出科学家奖得主。美国散裂中子源广角范围斩波器谱仪项目和美国中子散射实验分散数据分析软件项目的主要科学家。在利用非弹性中子散射对材料热力学的基本理解方面作出了突出贡献。

提要文摘附注:

本书分为13章,内容包括:衍射和X射线粉末衍射仪、TEM及其电子光学、中子散射、散射、非弹性电子散射和谱学等。

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