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题名/责任者:

搞砸了的设计:随处可见的BAD UI/(日) 中村聪史著 邬佳笑译

出版发行项:

北京:人民邮电出版社,2016

ISBN及定价:

978-7-115-42805-9/CNY79.00

载体形态项:

xxi, 221页:彩图;26cm

其它题名:

随处可见的BAD UI

丛编项:

图灵交互设计丛书

个人责任者:

中村聪史, 1976- 著

个人次要责任者:

邬佳笑 译

学科主题:

人机界面-程序设计

中图法分类号:

TP311.1

出版发行附注:

Gijutsu Hyoron CO., Ltd授权

提要文摘附注:

从广义上讲，人与目的之间的媒介都可以称为UI（用户界面）。生活中处处是UI，每个人都可能成为UI设计者。而BAD UI就是指那些不能帮助用户达到目的，有时甚至可能会阻碍目的达成的UI。本书作者经过了长期的积累，收集了近200个BAD UI案例，旨在结合照片挖掘这些失败案例背后的原因，使读者学习什么样的设计会造成用户不便，进而设计出更好的UI。

使用对象附注:

本书适合所有领域的设计人员和对设计感兴趣的读者阅读。

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