MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：13
- 题名/责任者:
- 集成电路测试指南/邬刚，王瑞金，包军林编著
- 出版发行项:
- 北京:机械工业出版社,2021
- ISBN及定价:
- 978-7-111-68392-6/CNY99.00
- 载体形态项:
- 13,257页:图，照片;24cm
- 个人责任者:
- 邬刚 编著
- 个人责任者:
- 王瑞金 编著
- 个人责任者:
- 包军林 编著
- 学科主题:
- 集成电路-电路测试
- 中图法分类号:
- TN407
- 一般附注:
- 华章IT 华章图书
- 题名责任附注:
- 加速科技组编
- 提要文摘附注:
- 本书将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合，内容涵盖半导体集成电路测试流程，测试原理以及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN407/15 | B01474290 | 2021 |  自然科学图书借阅室
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可借 | 还书处 |
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