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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:5

题名/责任者:
纳米集成电路FinFET器件物理与模型/(美)萨马·K.萨哈(Samar K.Saha)著 丁扣宝译
出版发行项:
北京:机械工业出版社,2022.02
ISBN及定价:
978-7-111-69481-6/CNY119.00
载体形态项:
13,238页:图;24cm
并列正题名:
Finfet devices for vlsi circuits and systems
丛编项:
集成电路科学与工程丛书
个人责任者:
(美) 萨哈 (Saha, Samar K.) 著
个人次要责任者:
丁扣宝
学科主题:
纳米材料-集成电路工艺-系统建模
中图法分类号:
TN405
版本附注:
由Taylor & Francis出版集团旗下,CRC出版公司授权出版。
相关题名附注:
封面英文题名:Finfet devices for vlsi circuits and systems
提要文摘附注:
本书讲解FinFET器件电子学,介绍FinFET器件的结构、工作原理和模型等。本书主要内容有:主流MOSFET在22nm节点以下由于短沟道效应所带来的缩小限制概述;基本半导体电子学和pn结工作原理;多栅MOS电容器系统的基本结构和工作原理;非平面CMOS工艺中的FinFET器件结构和工艺技术;FinFET基本理论;FinFET小尺寸效应;FinFET泄漏电流;FinFET寄生电阻和寄生电容;FinFET工艺、器件和电路设计面临的主要挑战;FinFET器件紧凑模型。
使用对象附注:
纳米材料集成电路工艺系统研究相关人员
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN405/16 B01483799 2022.02  自然科学图书借阅室     可借 自然科学图书借阅室
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