无锡市图书馆书目检索系统

Online Public Access Catalogue

题名/责任者:

片上系统测试设计与优化/(瑞典) 埃里克·拉森著 孙仁杰译

出版发行项:

北京:科学出版社,2024

ISBN及定价:

978-7-03-076918-3/CNY88.00

载体形态项:

ⅹ, 314页:图;26cm

并列正题名:

Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization

个人责任者:

拉森 (Larsson, Erik) 著

个人次要责任者:

孙仁杰 译

学科主题:

集成电路-芯片-测试

学科主题:

集成电路-芯片-设计

中图法分类号:

TN407

相关题名附注:

英文并列题名取自封面

书目附注:

有书目 (第301-314页)

提要文摘附注:

本书讨论了片上系统（SoC）测试的相关问题，包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。全书分为三部分，在概述经典测试方法的基础上，介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难，并介绍了拉森和他的团队为克服上述困难所做的研究工作。

使用对象附注:

电子科学与技术、微电子工程等专业人员

豆瓣简介：