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规范文档1.温度对微电子和系统可靠性的影响 TN4/WL3
馆藏复本:1
可借复本:1 (美)Pradeep Lall,(美)Michael G. Pecht,(美)Edward B. Hakim著
国防工业出版社 2008
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中文图书2.产品可靠性、维修性及保障性手册.2版 TH122-62/57
馆藏复本:2
可借复本:0 (美)Michael Pecht著
机械工业出版社 2011
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