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  1. 中文图书1.电子封装技术与可靠性 TN405.94/5

    馆藏复本：1
    可借复本：0     (美)H. 阿德比利(Haleh Ardebili), (美)迈克尔·派克(Michael G. Pecht)著
    化学工业出版社 2012
    (0) 馆藏

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