检索到 8 条 责任者=恩云飞 的结果
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中文图书1.电子微组装可靠性设计,应用篇 TN605/6
馆藏复本：1
可借复本：1 何小琦，恩云飞，周斌编著
电子工业出版社 2022.03
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中文图书2.电子元器件失效分析技术 TN6/74
馆藏复本：1
可借复本：1 工业和信息化部电子第五研究所组编
电子工业出版社 2015
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中文图书3.半导体集成电路的可靠性及评价方法 TN43/33
馆藏复本：2
可借复本：0 章晓文，恩云飞编著
电子工业出版社 2015.10
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中文图书4.可靠性物理 TN6/73
馆藏复本：1
可借复本：0 恩云飞，谢少锋，何小琦编著
电子工业出版社 2015.10
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中文图书5.ESD揭秘:静电防护原理和典型应用:from semiconductor manufacturing to product use TN43/30
馆藏复本：2
可借复本：2 (美)Steven H. Voldman著
机械工业出版社 2014
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中文图书6.电子产品故障预测与健康管理:应用构架与实践 TN06/39
馆藏复本：2
可借复本：2 孔学东，恩云飞，陆裕东等著
电子工业出版社 2013
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中文图书7.MEMS可靠性 TN4/118
馆藏复本：2
可借复本：2 (美)Allyson L. Hartzell，(美)Mark G. da Silva，(瑞士)Herbert R. Shea著
电子工业出版社 2012
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中文图书8.电子封装技术与可靠性 TN405.94/5
馆藏复本：1
可借复本：0 (美)H. 阿德比利(Haleh Ardebili), (美)迈克尔·派克(Michael G. Pecht)著
化学工业出版社 2012
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