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中文图书1.数字集成电路容错设计:容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误 TN431.2/81
馆藏复本：2
可借复本：2 李晓维[等]著
科学出版社 2011
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中文图书2.数字集成电路测试优化:测试压缩、测试功耗优化、测试调度 TN431.2/77
馆藏复本：2
可借复本：1 李晓维[等]著
科学出版社 2010
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中文图书3.数字集成电路设计验证:量化评估、激励生成、形式化验证 TN431.2/76
馆藏复本：2
可借复本：0 李晓维[等]著
科学出版社 2010
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