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检索到 58 条 题名=半导体 器件 的结果    

 


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  1. 中文图书1.电子电路分析与设计:半导体器件及其基本应用:circuit analysis and design.4版 TN702/140

    馆藏复本:1
    可借复本:0
    (美)尼曼(Donald A. Neamen)著
    清华大学出版社 2020.11
    (0) 馆藏

  2. 规范文档2.半导体器件基础 TN303/WL1

    馆藏复本:1
    可借复本:1
    (美)Robert F.Pierret著
    电子工业出版社 2004
    (0) 馆藏

  3. 规范文档3.半导体器件基础 TN303/WL2

    馆藏复本:1
    可借复本:1
    (美)Betty Lise Anderson,(美)Richard L. Anderson著
    清华大学出版社 2008
    (0) 馆藏

  4. 中文图书4.半导体器件数值模拟计算方法的理论和应用 TN303/49

    馆藏复本:2
    可借复本:2
    袁益让,刘蕴贤著
    科学出版社 2018
    (0) 馆藏

  5. 中文图书5.半导体器件TCAD设计与应用 TN302/2

    馆藏复本:2
    可借复本:1
    韩雁,丁扣宝编著
    电子工业出版社 2013
    (0) 馆藏

  6. 中文图书6.半导体器件基础 TN303/40

    馆藏复本:2
    可借复本:1
    (美)Robert F. Pierret著
    电子工业出版社 2010
    (0) 馆藏

  7. 中文图书7.半导体器件电子学 TN389/2

    馆藏复本:2
    可借复本:1
    (美)R.M.Warner, (美)B.L.Grung著
    电子工业出版社 2005
    (0) 馆藏

  8. 中文图书8.半导体器件原理简明教程 TN303/38

    馆藏复本:2
    可借复本:0
    傅兴华[等]编著
    科学出版社 2010
    (0) 馆藏

  9. 中文图书9.贴片元器件实用备查手册 TN6/18

    馆藏复本:1
    可借复本:0
    本书编写组编
    中国电力出版社 2010
    (0) 馆藏

  10. 中文图书10.场效应管实用备查手册 TN386/9

    馆藏复本:1
    可借复本:0
    阳鸿钧等编
    中国电力出版社 2010
    (0) 馆藏

  11. 中文图书11.半导体器件物理与工艺 TN305/29

    馆藏复本:2
    可借复本:1
    (美) 施敏著
    苏州大学出版社 2002
    (0) 馆藏

  12. 中文图书12.IGBT实用备查手册 TN386/8

    馆藏复本:2
    可借复本:1
    阳鸿钧等编
    中国电力出版社 2008
    (0) 馆藏

  13. 中文图书13.半导体器件新工艺 TN303/35

    馆藏复本:2
    可借复本:2
    梁瑞林编著
    科学出版社 2008
    (0) 馆藏

  14. 中文图书14.半导体器件物理基础 TN303/20

    馆藏复本:0
    可借复本:0
    李素珍,丁辛芳编
    高等教育出版社 1983
    (0) 馆藏

  15. 中文图书15.半导体器件基础 TN303/12

    馆藏复本:1
    可借复本:0
    电子工业半导体专业工人技术教材编写组编
    上海科学技术文献出版社 1984
    (0) 馆藏

  16. 中文图书16.半导体器件的数值分析 TN303/21

    馆藏复本:1
    可借复本:0
    (日)仓田卫著
    电子工业出版社 1985
    (0) 馆藏

  17. 中文图书17.半导体器件的分析与模拟 TN303/27

    馆藏复本:1
    可借复本:0
    (奥)赛尔勃赫(Selberherr,S.)著
    上海科学技术文献出版社 1988.9
    (0) 馆藏

  18. 中文图书18.半导体器件研究与进展.二 TN303/28:2

    馆藏复本:0
    可借复本:0
    王守武主编
    科学出版社 1991.4
    (0) 馆藏

  19. 中文图书19.半导体器件研究与发展.第一册 TN303/28:1

    馆藏复本:0
    可借复本:0
    王守武主编
    科学出版社 1988.12
    (0) 馆藏

  20. 中文图书20.半导体器件可靠性与失效分析 TN306/3-2

    馆藏复本:1
    可借复本:0
    张安康编
    江苏科学技术出版社 1981
    (0) 馆藏

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