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  1. 中文图书1.MEMS可靠性 TN4/118

    馆藏复本：2
    可借复本：2     (美)Allyson L. Hartzell，(美)Mark G. da Silva，(瑞士)Herbert R. Shea著
    电子工业出版社 2012
    (0) 馆藏

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