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• 010 __ |a 978-7-121-27232-5 |d CNY88.00

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• 102 __ |a CN |b 110000

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 可靠性物理 |9 ke kao xing wu li |f 恩云飞，谢少锋，何小琦编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2015.10

• 215 __ |a 16,426页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 可靠性技术丛书

• 304 __ |a 工业和信息化部电子第五研究所组编

• 330 __ |a 本书全面阐述了电子元器件可靠性物理的基本概念和失效物理模型。全书共13章，前两章介绍可靠性物理及其发展现状，并介绍了8类经典的失效物理模型及工程应用的意义；后11章分别论述了微电子器件、微波器件、光电子器件等。

• 333 __ |a 电子工程技术人员

• 461 _0 |1 2001 |a 可靠性技术丛书

• 606 0_ |a 电子元件 |x 可靠性

• 606 0_ |a 电子器件 |x 可靠性

• 690 __ |a TN6 |v 5

• 701 _0 |a 恩云飞 |9 en yun fei |4 编著

• 701 _0 |a 谢少锋 |9 xie shao feng |4 编著

• 701 _0 |a 何小琦 |9 he xiao qi |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 人天书店 |c 20151105

• 801 _2 |a CN |b Wuxilib |c 20160601

• 905 __ |a Wuxilib |d TN6/73