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• 200 1_ |a 半导体测量和仪器 |A ban dao ti ce liang he yi qi |f (美)鲁尼安(W.R.Runyan)编著

• 210 __ |a 上海 |c 上海科学技术出版社 |d 1980

• 215 __ |a 322页 |d 20cm

• 300 __ |a 书名原文:Semiconductor measurements and instrumentation

• 510 1_ |a Semiconductor measurements and instrumentation |z eng

• 606 __ |a 半导体材料 |x 测试

• 606 __ |a 半导体器件 |x 测试

• 690 __ |a TN307 |v 3

• 701 _1 |a 鲁尼安 |A lu ni an |b W.R. |4 编著

• 701 _1 |a Runyan |b W.R. |4 编著

• 801 _0 |a CN |b NLC

• 905 __ |a Wuxilib |d TN307/4