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• 000 01123nam0 2200289 450

• 001 0001086273

• 005 20220816151800.0

• 010 __ |a 978-7-111-68392-6 |d CNY99.00

• 100 __ |a 20210628d2021 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 集成电路测试指南 |A Ji Cheng Dian Lu Ce Shi Zhi Nan |9 ji cheng dian lu ce shi zhi nan |b 专著 |f 邬刚，王瑞金，包军林编著

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2021

• 215 __ |a 13,257页 |c 图，照片 |d 24cm

• 300 __ |a 华章IT 华章图书

• 304 __ |a 加速科技组编

• 330 __ |a 本书将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合，内容涵盖半导体集成电路测试流程，测试原理以及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。

• 606 0_ |a 集成电路 |A Ji Cheng Dian Lu |x 电路测试

• 690 __ |a TN407 |v 5

• 701 _0 |a 邬刚 |A Wu Gang |9 wu gang |4 编著

• 701 _0 |a 王瑞金 |A Wang Rui Jin |9 wang rui jin |4 编著

• 701 _0 |a 包军林 |A Bao Jun Lin |9 bao jun lin |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 浙江省新华书店集团公司 |c 20210628

• 801 _2 |a CN |b Wuxilib |c 20220815

• 905 __ |a Wuxilib |d TN407/15