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• 000 00810nam0 2200289 45

• 001 0000087288

• 005 20000330142900.0

• 010 __ |d ￥2.20

• 091 __ |a CN |b 15175.554

• 100 __ |a 20000330d1985 kemy0chiy0121 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a y z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 半导体器件的核辐射加固 |A ban dao ti qi jian de he fu she jia gu |f 包宗明, 王儒全译

• 210 __ |a 北京 |c 原子能出版社 |d 1985

• 215 __ |a 397页 |d 20cm

• 606 __ |a 半导体器件-辐射效应 |x 文集

• 606 __ |a 辐射效应-半导体器件 |x 文集

• 606 __ |a 半导体器件-抗辐射性 |x 文集

• 606 __ |a 抗辐射性-半导体器件 |x 文集

• 690 __ |a TN305 |v 3

• 701 _0 |a 包宗明 |A bao zong ming |4 译

• 701 _0 |a 王儒全 |A wang ru quan |4 译

• 801 _0 |a CN |b 深圳图书馆

• 801 _2 |a CN |b NLC

• 905 __ |a Wuxilib |d TN305/17