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• 200 1_ |a 分析晶体缺陷的电子显微术 |A fen xi jing ti que xian de dian zi xian wei shu |f (美)洛雷托,(美)斯莫尔曼著 |g 康振川,王桂金译

• 210 __ |a 上海 |c 上海科学技术出版社 |d 1979

• 215 __ |a 111页 |d 20cm

• 606 __ |a 晶体缺陷-分析-电子显微术

• 606 __ |a 电子显微术-晶体缺陷-分析

• 690 __ |a TG115.21 |v 3

• 701 _1 |a 洛雷托 |A luo lei tuo |4 著

• 701 _1 |a 斯莫尔曼 |A si mo er man |4 著

• 702 _0 |a 康振川 |A kang zhen chuan |4 译

• 702 _0 |a 王桂金 |A wang gui jin |4 译

• 801 _0 |a CN |b NLC

• 905 __ |a Wuxilib |d TG115.21/4