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• 010 __ |a 978-7-03-076918-3 |d CNY88.00

• 100 __ |a 20240126d2024 em y0chiy50 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 片上系统测试设计与优化 |A pian shang xi tong ce shi she ji yu you hua |f (瑞典) 埃里克·拉森著 |g 孙仁杰译

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2024

• 215 __ |a ⅹ, 314页 |c 图 |d 26cm

• 312 __ |a 英文并列题名取自封面

• 320 __ |a 有书目 (第301-314页)

• 330 __ |a 本书讨论了片上系统（SoC）测试的相关问题，包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。全书分为三部分，在概述经典测试方法的基础上，介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难，并介绍了拉森和他的团队为克服上述困难所做的研究工作。

• 333 __ |a 电子科学与技术、微电子工程等专业人员

• 510 1_ |a Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization |z eng

• 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 芯片 |x 测试

• 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 芯片 |x 设计

• 690 __ |a TN407 |v 5

• 701 _1 |a 拉森 |A la sen |g (Larsson, Erik) |4 著

• 702 _0 |a 孙仁杰 |A sun ren jie |4 译

• 801 _0 |a CN |b 江苏新华 |c 20240108

• 801 _2 |a CN |b Wuxilib |c 20250314

• 905 __ |a Wuxilib |d TN407/16