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• 200 1_ |a 嵌入式软件测试 |A Qian Ru Shi Ruan Jian Ce Shi |d Testing Embedded Software |f （美）Bart Broekman，Edwin Notenboom著 |F （ Mei） Bart Broekman，Edwin Notenboom Zhu |g 张君施[等]译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2004.1

• 215 __ |a 311页 |c 图 |d 24cm

• 320 __ |a 有书目

• 510 1_ |a Testing Embedded Software |z eng

• 606 __ |a 软件 |x 测试

• 690 __ |a TP311.5 |v 4

• 701 A1 |a Broekman |b Bart |4 著

• 701 A1 |a Notenboom |b Edwin |4 著

• 702 _0 |a 张君施 |A Zhang Jun Shi |4 译

• 702 _0 |a 张思宇 |A Zhang Si Yu |4 译

• 702 _0 |a 周承平 |A Zhou Cheng Ping |4 译

• 801 _0 |a CN |b BSD |c 20040303

• 801 _2 |a CN |b Wuxilib |c 20040607

• 905 __ |a Wuxilib |d TP311.5/59