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• 200 1_ |a 硅中缺陷与器件质量 |A gui zhong que xian yu qi jian zhi liang |e 半导体材料学进展译文集 |f 王儒全等译

• 210 __ |a 北京 |c 轻工业出版社 |d 1980

• 215 __ |a 180页 |d 25cm

• 606 __ |a 硅中缺陷

• 690 __ |a TN304.1 |v 3

• 701 _0 |a 王儒全 |A wang ru quan |4 著

• 801 _0 |a CN |b 上海图书馆

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