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• 200 1_ |a 半导体材料测试与分析 |9 ban dao ti cai liao ce shi yu fen xi |f 杨德仁等著

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2010

• 215 __ |a 11,381页 |c 图 |d 25cm

• 225 2_ |a 半导体科学与技术丛书

• 330 __ |a 本书主要介绍半导体材料的各种测试分析技术，涉及测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和应用实例等内容：包括四探针电阻率、无接触电阻率、扩展电阻、微波光电导衰减、霍尔效应、红外光谱等测试分析技术。

• 461 _0 |1 2001 |a 半导体科学与技术丛书

• 606 0_ |a 半导体材料 |x 测试

• 690 __ |a TN304.07 |v 4

• 701 _0 |a 杨德仁 |9 yang de ren |4 著

• 801 _0 |a CN |b SG02 |c 20100601

• 801 _2 |a CN |b Wuxilib |c 20101206

• 905 __ |a Wuxilib |d TN304.07/3