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• 101 1_ |a chi |c eng

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计 |9 shu zi ji cheng dian lu yu qian ru shi nei he xi tong de ce shi she ji |d Design-for-test for digital IC's and embedded core systems |f (美)Alfred L.Crouch著 |g 何虎，马立伟等译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2006

• 215 __ |a 284页 |d 26cm |e 1光盘

• 225 2_ |a 电子与电气工程丛书

• 305 __ |a 由美国Pearson Education培生教育出版集团授权机械工业出版社独家出版

• 330 __ |a 全书论述集成电路与嵌入式数字系统的测试技术，提出许多重要且关键的解决方案。针对目前在测试中遇到的实际问题，从技术和产品的投资成本上论述嵌入内核和SoC的测试问题。

• 461 _0 |1 2001 |a 电子与电气工程丛书

• 510 1_ |a Design-for-test for digital IC's and embedded core systems |z eng

• 606 __ |a 数字集成电路 |x 测试 |x 设计

• 606 __ |a 微计算机系统 |x 测试 |x 设计

• 690 __ |a TN431.2 |v 4

• 701 _1 |c (美) |a Crouch |b Alfred L. |4 著

• 702 _0 |a 何虎 |9 he hu |4 译

• 702 _0 |a 马立伟 |9 ma li wei |4 译

• 801 _0 |a CN |b 110120 |c 20060620

• 801 _2 |a CN |b Wuxilib |c 20060912

• 905 __ |a Wuxilib |d TN431.2/70