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• 010 __ |a 978-7-03-030576-3 |b 精装 |d CNY68.00

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• 200 1_ |a 数字集成电路容错设计 |9 shu zi ji cheng dian lu rong cuo she ji |b 专著 |e 容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误 |f 李晓维[等]著

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2011

• 215 __ |a 433页 |d 25cm

• 300 __ |a 中国科学院科学出版基金资助出版

• 304 __ |a 著者还有：胡瑜、张磊、鄢贵海

• 330 __ |a 本书主要内容涉及数字集成电路容错设计的三个主要方面：容缺陷（和故障）、容参数偏差以及容软错误；包括3S技术（自测试、自诊断、自修复）的基本原理。

• 517 1_ |a 容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误 |9 rong que xian/gu zhang、rong can shu pian cha、rong ruan cuo wu

• 606 0_ |a 数字集成电路 |9 Shu Zi Ji Cheng Dian Lu |x 电路设计

• 690 __ |a TN431.2 |v 4

• 701 _0 |a 李晓维 |9 li xiao wei |4 著

• 801 _0 |a CN |b ZL |c 20110531

• 801 _2 |a CN |b Wuxilib |c 20150121

• 905 __ |a Wuxilib |d TN431.2/81