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- 010 __ |a 978-7-111-68175-5 |d CNY99.00
- 100 __ |a 20210813d2021 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 碳化硅功率器件 |9 tan hua gui gong lv qi jian |b 专著 |e 特性、测试和应用技术 |f 高远,陈桥梁编著
- 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2021.07
- 215 __ |a 14,311页 |c 图 |d 24cm
- 312 __ |a 封面英文题名:Silicon Carbide power semiconductor devices: characteristics, testing and applications
- 330 __ |a 本书介绍了碳化硅功率器件的基本原理、特性、测试方法以及应用技术,概括了近年学术界和工业界的最新研究成果。本书共分为9个章节,分别为功率半导体器件的基础,SiC MOSFET参数解读、测试及应用,双脉冲测试,SiC与Si器件特性对比,高di/dt影响与应对——关断电压尖峰,高dv/dt影响与应对——crosstalk,共模电流的影响与应对,共源极电感的影响与应对及驱动电路设计。
- 333 __ |a 本书可供电力电子、新能源技术和功率半导体器件等领域的广大工程技术人员和科研工作者,满足从事器件设计、封装、测试、应用专业人员的知识和技术需求
- 510 1_ |a Characteristics, testing and applications |e characteristics, testing and applications |z eng
- 517 1_ |a 特性、测试和应用技术 |9 te xing 、 ce shi he ying yong ji shu
- 701 _0 |a 高远 |9 gao yuan |4 编著
- 701 _0 |a 陈桥梁 |9 chen qiao liang |4 编著
- 801 _0 |a CN |b 人天书店 |c 20210813
- 801 _2 |a CN |b Wuxilib |c 20220209
- 905 __ |a Wuxilib |d TN303/53