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• 010 __ |a 978-7-121-27230-1 |d CNY98.00

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• 200 1_ |a 电子元器件失效分析技术 |A Dian Zi Yuan Qi Jian Shi Xiao Fen Xi Ji Shu |f 工业和信息化部电子第五研究所组编 |g 恩云飞, 来萍, 李少平编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2015

• 215 __ |a xix, 453页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 可靠性技术丛书 |A Ke Kao Xing Ji Shu Cong Shu

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容，使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念，技术和设备、方法和流程，指导开展相关的失效分析工作，并了解失效预防的一些基本方法和手段。

• 333 __ |a 从事电子元器件失效分析的技术人员。

• 410 _0 |1 2001 |a 可靠性技术丛书

• 606 0_ |a 电子元器件 |A Dian Zi Yuan Qi Jian |x 失效分析

• 690 __ |a TN6 |v 5

• 701 _0 |a 恩云飞 |A En Yun Fei |4 编著

• 701 _0 |a 来萍 |A Lai Ping |4 编著

• 701 _0 |a 李少平 |A Li Shao Ping |4 编著

• 712 01 |a 中国 |A Zhong Guo |b 工业和信息化部 |B Gong Ye He Xin Xi Hua Bu |b 电子第五研究所 |B Dian Zi Di Wu Yan Jiu Suo |4 组编

• 801 _0 |a CN |b 江苏新华 |c 20150511

• 801 _2 |a CN |b Wuxilib |c 20161227

• 905 __ |a Wuxilib |d TN6/74