书架信息
| 题名 | 责任者 | 出版社 | 出版日期 | 索书号 | |
| 1 | 光学测试技术 | 刘承,张登伟,张彩妮等编著 | 电子工业出版社 | 2013 | TH74/3 |
| 2 | 光学与光子学:美国不可或缺的关键技术 | 美国国家科学院,美国国家科学研究委员会编 | 科学出版社 | 2015 | O43/61 |
| 题名 | 责任者 | 出版社 | 出版日期 | 索书号 | |
| 1 | 光学测试技术 | 刘承,张登伟,张彩妮等编著 | 电子工业出版社 | 2013 | TH74/3 |
| 2 | 光学与光子学:美国不可或缺的关键技术 | 美国国家科学院,美国国家科学研究委员会编 | 科学出版社 | 2015 | O43/61 |